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嵌入式面试题库

按知识、方向与难度筛选;每道题都有分层回答和工程追问。

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找到 394 道题第 12 / 50 页
MCU 与外设MCU / RTOS深入故障定位

ADC 前端源阻抗过大时,为什么采样结果会偏低或串通道?

ADC 采样保持电容需要在采样窗口内通过信号源充到足够接近输入电压。源阻抗高或通道切换过快时,电容来不及稳定并残留前一通道电荷;可延长采样时间、加缓冲或丢弃首样。

高频面试新增60题ADC 采样
MCU 与外设MCU / RTOS进阶原理题

ADC 扫描配合 DMA 时,怎样确认通道顺序并处理溢出?

DMA 缓冲顺序由 ADC 常规序列和转换完成请求规则决定,不应假设按通道编号排列。要配置连续/单次、序列长度和 DMA 循环模式,处理半满/全满边界,并监控 ADC Overrun 与 DMA 错误。

高频面试新增60题ADC DMA
MCU 与外设MCU / RTOS深入原理题

ADC 校准和过采样能提高多少有效精度?

校准主要补偿内部偏置或增益误差,过采样在噪声足够且样本独立时可降低随机噪声;理论上每增加约 1 Bit 分辨率需要约 4 倍样本,但不能消除参考源误差、非线性和系统性偏差。

高频面试新增100题ADC
MCU 与外设MCU / RTOS深入原理题

BLE GATT 中 MTU、Notification 和 Indication 怎样影响吞吐与可靠性?

ATT MTU 决定单个属性 PDU 上限但有效负载还要扣头部;Notification 无应用层确认、可流水发送,Indication 必须等对端确认且同一时刻受限。实际吞吐还受 Data Length、PHY、连接间隔和控制器队列影响。

高频面试新增100题BLE GATT
MCU 与外设MCU / RTOS深入原理题

BLE Pairing、Bonding 和 MITM 保护分别是什么意思?

Pairing 建立当前连接的密钥,Bonding 把密钥保存用于后续重连;MITM 保护取决于关联模型和双方 I/O 能力,Just Works 通常不能确认对端身份。还要区分加密、认证和授权。

高频面试新增100题BLE 安全
MCU 与外设MCU / RTOS进阶原理题

BLE 广播间隔和连接参数怎样影响发现速度、吞吐和功耗?

更短广播间隔提高被扫描发现概率但增加发射功耗;连接间隔决定连接事件频率,Slave Latency 允许外设跳过部分事件,Supervision Timeout 决定失联判定。参数必须满足规范关系并结合业务时延。

高频面试新增100题BLE
MCU 与外设MCU / RTOS进阶原理题

CAN FD 与经典 CAN 的主要区别是什么?BRS 解决了什么?

CAN FD 将数据字段扩展到最多 64 字节,引入新的 CRC 与控制字段;启用 BRS 时仲裁阶段仍用较低标称速率,数据阶段切换到更高速率。更大帧降低协议开销,但所有节点、收发器和布线必须满足相应时序。

高频面试新增100题CAN FD
MCU 与外设MCU / RTOS深入原理题

CAN 位时序中的 Prescaler、TSEG1、TSEG2 和 SJW 怎样配合?

一个 Bit 由 Sync、TSEG1 和 TSEG2 的时间量子组成,Prescaler 决定量子长度,采样点位于 TSEG1 末端,SJW 限制重同步调整幅度。配置要同时满足目标波特率、总线传播延迟、节点时钟误差和控制器范围。

高频面试新增100题CAN 位时序
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